Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sarah Fearn, Alexander Shard
Inbunden, 2025
1 469 kr
Del i serien IOP Concise Physics
Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Häftad, Engelska, 2015
679 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Finns i fler format (2)
Produktinformation
- Utgivningsdatum2015-10-16
- Mått178 x 254 x 5 mm
- Vikt333 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- SerieIOP Concise Physics
- Antal sidor66
- FörlagMorgan & Claypool Publishers
- ISBN9781681740249
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Mer från samma författare
Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sarah Fearn, Alexander Shard
Häftad, 2025
539 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Sarah Fearn
Inbunden, 2015
2 169 kr
Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Sarah Fearn
Häftad, 2015
779 kr
Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sarah Fearn, Alexander Shard
Häftad, 2025
539 kr
Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sarah Fearn, Alexander Shard
Inbunden, 2025
1 469 kr
- Nyhet
Del 11
- Nyhet
Del 4
Del 1
Del 3
- Nyhet
Del 3
Del 2