Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Inbunden, Engelska, 2015
Av Sarah Fearn
2 149 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.Finns i fler format (2)
Produktinformation
- Utgivningsdatum2015-10-16
- Mått178 x 254 x 6 mm
- Vikt340 g
- FormatInbunden
- SpråkEngelska
- SerieIOP Concise Physics
- Antal sidor66
- FörlagMorgan & Claypool Publishers
- ISBN9781643279107