Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sarah Fearn, Alexander Shard
Inbunden, 2025
1 469 kr
Del i serien Morgan & Claypool Publishers
Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Häftad, Engelska, 2015
779 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Finns i fler format (2)
Produktinformation
- Utgivningsdatum2015-10-16
- Mått178 x 254 x 4 mm
- Vikt137 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- SerieMorgan & Claypool Publishers
- Antal sidor68
- FörlagMorgan & Claypool
- ISBN9780750328005
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Mer från samma författare
Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sarah Fearn, Alexander Shard
Häftad, 2025
539 kr
Hoppa över listan
Mer från samma serie
Nanoscopic Electrofocusing for Bio-Nanoelectronic Devices
Shanmugamurthy Lakshmanan, Michael R Hamblin
Häftad, 2014
1 209 kr
Smart External Stimulus-Responsive Nanocarriers for Drug and Gene Delivery
Mahdi Karimi, Parham Sahandi Zangabad, Amir Ghasemi
Häftad, 2015
989 kr
Introduction to the Formalism of Quantum Information with Continuous Variables
Carlos Navarrete-Benlloch
Häftad, 2016
1 209 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Sarah Fearn
Häftad, 2015
679 kr
Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Sarah Fearn
Inbunden, 2015
2 169 kr
Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sarah Fearn, Alexander Shard
Häftad, 2025
539 kr
Secondary Ion Mass Spectrometry and Its Application to Materials Science (Second Edition)
Sarah Fearn, Alexander Shard
Inbunden, 2025
1 469 kr
- Nyhet
Del 11
- Nyhet
Del 4
Del 1
Del 3
- Nyhet
Del 3
Del 2