Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Häftad, Engelska, 2015
Av Sarah Fearn
749 kr
Beställningsvara. Skickas inom 7-10 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.Finns i fler format (2)
Produktinformation
- Utgivningsdatum2015-10-16
- Mått178 x 254 x 4 mm
- Vikt137 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- Antal sidor68
- FörlagMorgan & Claypool
- ISBN9780750328005