Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science

Häftad, Engelska, 2015

Av Sarah Fearn

759 kr

Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Produktinformation

  • Utgivningsdatum2015-10-16
  • Mått178 x 254 x 4 mm
  • Vikt137 g
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor68
  • FörlagMorgan & Claypool
  • EAN9780750328005

Tillhör följande kategorier