bokomslag Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
Vetenskap & teknik

Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science

Sarah Fearn

Pocket

779:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 5-10 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

Andra format:

  • 68 sidor
  • 2015
  • Författare: Sarah Fearn
  • Format: Pocket/Paperback
  • ISBN: 9780750328005
  • Språk: Engelska
  • Antal sidor: 68
  • Utgivningsdatum: 2015-10-16
  • Förlag: Morgan & Claypool