Maria F Ebel – författare

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Manfred Grasserbauer, Hans Joachim Dudek, Maria F Ebel - Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, AES Und XPS, Inbunden

Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, AES Und XPS

AvManfred Grasserbauer,Hans Joachim Dudekm. fl.

Inbunden, Tyska, 1986

2 529 kr

Skickas inom 5-8 vardagar

M. Grasserbauer, H.J. Dudek, Maria F. Ebel - Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie, Häftad

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

AvM. Grasserbauer,H.J. Dudekm. fl.

Häftad, Tyska, 2011

999 kr

Skickas inom 10-15 vardagar