Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
M. Grasserbauer, H.J. Dudek, Maria F. Ebel, H. J. Dudek
Häftad
979 kr
Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, AES Und XPS
Inbunden, Tyska, 1987
2 659 kr
Beställningsvara. Skickas inom 3-6 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Produktinformation
- Utgivningsdatum1987-01-14
- Mått175 x 246 x 23 mm
- Vikt709 g
- FormatInbunden
- SpråkTyska
- Antal sidor312
- Förlagde Gruyter
- ISBN9783112702666