Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie
M. Grasserbauer, H.J. Dudek, Maria F. Ebel
Häftad, 2011
1 009 kr
Angewandte Oberflächenanalyse Mit Sims, AES Und XPS
Inbunden, Tyska, 1986
2 579 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Produktinformation
- Utgivningsdatum1986-01-01
- Mått170 x 244 x 19 mm
- Vikt694 g
- FormatInbunden
- SpråkTyska
- Antal sidor312
- FörlagDe Gruyter
- ISBN9783112702666
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
- Nyhet
Del 11
- Nyhet
Del 3
Del 1
- Nyhet
- Nyhet
- Nyhet
- Nyhet
Del 4
Del 3
Del 2