Hoppa till sidans huvudinnehåll

H.J. Dudek – författare

Visar alla böcker från författaren .
1 produkt
M. Grasserbauer, H.J. Dudek, Maria F. Ebel - Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie, Häftad

Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS Sekundär-Ionen-Massenspektrometrie AES Auger-Elektronen-Spektrometrie XPS Röntgen-Photoelektronen-Spektrometrie

AvM. Grasserbauer,H.J. Dudekm. fl.

Häftad, Tyska, 2011

979 kr

Skickas inom 10-15 vardagar