OCM 2013 - Optical Characterization of Materials - conference proceedings

Häftad, Tyska, 2014

Av Fernando Puente León, Jürgen Beyerer, Thomas Längle

899 kr

Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Produktinformation

Utgivningsdatum2014-07-31
Mått148 x 210 x 16 mm
Vikt354 g
FormatHäftad
SpråkTyska
Antal sidor296
FörlagKarlsruher Institut Fur Technologie
ISBN9783866449657

Tillhör följande kategorier

Informationsteknik: allmänt inom Data och it

Mer från samma författare

Signale Und Systeme

Signale Und Systeme

Fernando Puente León, Holger Jäkel

1 049 kr

Ereignisdiskrete Systeme

Ereignisdiskrete Systeme

Fernando Puente León, Uwe Kiencke

679 kr

Machine Vision

Machine Vision

Jürgen Beyerer, Fernando Puente León, Christian Frese

3 059 kr

Machine Vision

Machine Vision

Jürgen Beyerer, Fernando Puente León, Christian Frese, Jurgen Beyerer, Fernando Puente Leon

2 159 kr

Messtechnik

Messtechnik

Fernando Puente León, Fernando Puente Leon

509 kr

Automatische Sichtprüfung

Automatische Sichtprüfung

Jürgen Beyerer, Fernando Puente León, Christian Frese, Johannes Meyer

1 159 kr

Verteilte Messsysteme

Verteilte Messsysteme

Fernando Puente León, K -D Sommer, K. -D Sommer, K.-D. Sommer, K. -D. Sommer, M Heizmann, M. Heizmann

639 kr

Forum Bildverarbeitung

Forum Bildverarbeitung

Fernando Puente León, Michael Heizmann

799 kr

Forum Bildverarbeitung 2012

Forum Bildverarbeitung 2012

Fernando Puente León, Michael Heizmann

939 kr

Automated Visual Inspection and Machine Vision II

Automated Visual Inspection and Machine Vision II

Jürgen Beyerer, Fernando Puente León

1 949 kr

Du kanske också är intresserad av