Del 3
Del 2 i serien Research at Namlab
Leakage Current and Defect Characterization of Short Channel Mosfets
Häftad, Engelska, 2012
1 539 kr
Tillfälligt slut
Produktinformation
- Utgivningsdatum2012-11-30
- Mått145 x 210 x undefined mm
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- SerieResearch at Namlab
- Antal sidor235
- FörlagLogos Verlag Berlin GmbH
- ISBN9783832532611
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Mer från samma serie
Del 4
Electrical Characterisation of Ferroelectric Field Effect Transistors Based on Ferroelectric Hfo_2thin Films
Ekaterina Yurchuk
Häftad, 2015
1 269 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Del 3
Del 4
Electrical Characterisation of Ferroelectric Field Effect Transistors Based on Ferroelectric Hfo_2thin Films
Ekaterina Yurchuk
Häftad, 2015
1 269 kr
Del 5
Development of HfO2-Based Ferroelectric Memories for Future CMOS Technology Nodes
Stefan Ferdinand Müller
Häftad, 2016
739 kr
- Nyhet
Del 3
- Nyhet
Del 11
- Nyhet
Del 4
- Nyhet
Del 6
Del 1
Del 3
Del 2