Data-driven Methods for Fault Localization in Process Technology

Häftad, Engelska, 2014

Av Christian Kühnert

749 kr

Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Produktinformation

Utgivningsdatum2014-05-22
Mått148 x 210 x 12 mm
Vikt277 g
FormatHäftad
SpråkEngelska
Antal sidor226
FörlagKarlsruher Institut Fur Technologie
ISBN9783731500988

Tillhör följande kategorier

Du kanske också är intresserad av

Machine Learning for Cyber Physical Systems

Machine Learning for Cyber Physical Systems

Oliver Niggemann, Christian Kühnert, Jürgen Beyerer

679 kr

Machine Learning for Cyber Physical Systems

Del 3

Machine Learning for Cyber Physical Systems

Jürgen Beyerer, Oliver Niggemann, Christian Kühnert

2 169 kr

Machine Learning for Cyber-Physical Systems

Del 18

Machine Learning for Cyber-Physical Systems

Oliver Niggemann, Jürgen Beyerer, Maria Krantz, Christian Kühnert, Jurgen Beyerer, Christian Kuhnert

789 kr

Machine Learning for Cyber Physical Systems

Del 9

Machine Learning for Cyber Physical Systems

Jürgen Beyerer, Christian Kühnert, Oliver Niggemann, Jurgen Beyerer, Christian Kuhnert

709 kr

Machine Learning for Cyber Physical Systems

Machine Learning for Cyber Physical Systems

Oliver Niggemann, Christian Kühnert, Jürgen Beyerer

749 kr

Pappaskämt : den ultimata humorn

Pappaskämt : den ultimata humorn

49 kr79 kr

Hitster - Christmas

Hitster - Christmas

Jumbo

259 kr

Jul med guldkant

Nyhet

Jul med guldkant

Catarina König

299 kr349 kr

Byggarna

Nyhet

Byggarna

Gunnar Wetterberg

299 kr349 kr

Den yttersta hemligheten

Del 6

Den yttersta hemligheten

289 kr329 kr