Testverfahren in der Mikroelektronik

Die Akzeptanz mikroelektronischer Systemlsungen in industriellen und privaten Anwendungsbereichen hngt in starkem Mae von der Fehlerfreiheit und Zuverlssigkeit der eingesetzten elektronischen Schaltungen ab. Dies ist durch Verbesserungen in der Fertigung allein nicht mehr zu gewhrleisten. Die Komplexitt heutiger VLSI-Schaltungen hat dabei den Anteil der Testkosten an den gesamten Herstellungskosten eines digitalen Systems in rasanter Weise steigen lassen. Das Buch gibt einen berblick ber die Algorithmen, Methoden und Werkzeuge, um diesen Herausforderungen zu begegnen. Die mathematisch exakte Formlierung der Testaufgabe zieht sich dabei als roter Faden durch das ganze Buch,von der Fehlermodellierung bis hin zum testfreundlichen Schaltungsentwurf.