SCANNING PROBE MICROSCOPY
Tomczak Nikodem, Nikodem Tomczak, Kuan Eng Johnson Goh
Inbunden, 2010
1 799 kr
Scanning Probe Microscopy
Physical Property Characterization at Nanoscale
Inbunden, Engelska, 2012
2 179 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Finns i fler format (3)
Produktinformation
- Utgivningsdatum2012-04-27
- Mått180 x 260 x 22 mm
- Vikt769 g
- FormatInbunden
- SpråkEngelska
- Antal sidor258
- FörlagIn Tech
- ISBN9789535105763
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
- Nyhet
Del 11
- Nyhet
Del 3
- Nyhet
- Nyhet
Del 6
- Nyhet
- Nyhet
Del 4
- Nyhet
Del 3