Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Pradeep Lall, Michael Pecht, Edward B. Hakim
Häftad, 2019
759 kr
Del i serien Materials science library
Reliability, Test and Diagnostics
Inbunden, Engelska, 1989
2 479 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Produktinformation
- Utgivningsdatum1989-01-31
- Mått152 x 229 x 25 mm
- Vikt750 g
- FormatInbunden
- SpråkEngelska
- SerieMaterials science library
- Antal sidor396
- FörlagArtech House Publishers
- ISBN9780890062845
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Mer från samma författare
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Pradeep Lall, Michael Pecht, Edward B. Hakim
Inbunden, 1997
2 239 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Pradeep Lall, Michael Pecht, Edward B. Hakim
Inbunden, 1997
2 239 kr
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Pradeep Lall, Michael Pecht, Edward B. Hakim
Häftad, 2019
759 kr
- Nyhet
Del 6
- Nyhet
Del 3