Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. Hakim
Häftad, 2019
829 kr
Del i serien Materials science library
Reliability, Test and Diagnostics
Inbunden, Engelska, 1989
2 589 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Produktinformation
- Utgivningsdatum1989-01-31
- Mått152 x 229 x 25 mm
- Vikt750 g
- FormatInbunden
- SpråkEngelska
- SerieMaterials science library
- Antal sidor396
- FörlagArtech House Publishers
- ISBN9780890062845
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Influence of Temperature on Microelectronics and System Reliability
Pradeep Lall, Michael G. Pecht, Edward B. Hakim
Häftad, 2019
829 kr
- Nyhet
Del 3
- Nyhet
Del 11
- Nyhet
Del 4
- Nyhet
Del 6
Del 1
Del 3