Materials Science of Thin Films
Milton Ohring, USA (Retired)) Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ
Inbunden
1 769 kr
Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Häftad, Engelska, 1998
1 619 kr
Beställningsvara. Skickas inom 7-10 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Finns i fler format (2)
Produktinformation
- Utgivningsdatum1998-06-12
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- Antal sidor692
- FörlagAcademic Press
- ISBN9781493301737
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Total Capacity Management
The Ima Foundation Far, C. J. McNair, Richard Vangermeersch, The Ima Foundat Far
Inbunden
2 579 kr
Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Milton Ohring, USA (Retired)) Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ
Inbunden
1 859 kr
Reliability and Failure of Electronic Materials and Devices
Milton Ohring, Lucian Kasprzak, USA (Retired)) Ohring, Milton (Stevens Institute of Technology, Hoboken, NJ, Lucian (Siemens Healthcare Diagnostics (Retired)) Kasprzak, James R. Lloyd
Inbunden
1 799 kr