Produktinformation
- FormatInbunden
- SpråkTyska
- Antal sidor1 050
- FörlagSpringer Vieweg
- ISBN9783642541261
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Del 2
Handbook Of Instrumentation And Techniques For Semiconductor Nanostructure Characterization (In 2 Volumes)
HAIGHT RICHARD, Richard A Haight, Frances M Ross, James B Hannon, Usa) Haight, Richard A (Ibm Thomas J Watson Research Center, Usa) Ross, Frances M (Ibm Thomas J Watson Research Center, Usa) Hannon, James B (Ibm Thomas J Watson Research Center, Richard A. Haight, Frances M. Ross
9 429 kr
- Nyhet
Del 90