Del i serien Teubner Texte zur Informatik

Entwurf selbsttestbarer Schaltungen

Häftad, Tyska, 1998

719 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Dieses Buch spannt einen Bogen von den Defekten bei der Halbleiterfertigung uber die klassischen Testmethoden hin zu Selbsttestverfahren und den neuesten Forschungsarbeiten, die auf eine Integration von Entwurf und Test zielen und aus Verhaltensbeschreibungen automatisch gut testbare Schaltungen synthetisieren.

Produktinformation

Utgivningsdatum1998-01-01
Mått162 x 235 x 18 mm
Vikt522 g
FormatHäftad
SpråkTyska
SerieTeubner Texte zur Informatik
Antal sidor322
Upplaga1998
FörlagSpringer Fachmedien Wiesbaden
ISBN9783815423141

Tillhör följande kategorier

Teknik: allmänt inom Naturvetenskap och teknik

1 Einleitung.- 1.1 Testprobleme.- 1.2 Selbsttest als Lösung.- 1.3 Aufbau des Buchs.- 2 Defekte und Fehler.- 2.1 Defekte bei der Halbleiterfertigung.- 2.2 Bestimmung der realistischen Fehler.- 3 Teststrategien.- 3.1 Schaltungsbeschreibung.- 3.2 Fehlermodelle und Testmuster.- 3.3 Verbesserung der Testbarkeit.- 3.4 Durchführung des Tests.- 3.5 Auswahl einer Teststrategie.- 4 Methoden und Hardware-Strukturen für Mustererzeugung und Kompaktierung.- 4.1 Rückgekoppelte Schieberegister.- 4.2 Zellulare Automaten.- 4.3 Multifunktionale Testregister.- 4.4 Mustererzeugung und Kompaktierung mit arithmetischen Funktionseinheiten.- 5 Synthese selbsttestbarer Schaltungen.- 5.1 Selbsttestbare Strukturen.- 5.2 Synthese leicht testbarer Steuerwerke.- 5.3 High-Level-Synthese für leicht testbare Datenpfade.- 5.4 Optimaler Testregistereinbau.- 5.5 Planung des Testablaufs.- 6 Schluß.- 7 Literatur.- A Grundbegriffe aus der Graphentheorie.- B Grundbegriffe aus der Theorie der Markovketten.- C Benchmark-Schaltungen.