Automating Software Defect Detection Through Machine Learning and LLMs
Bryan Gardiner, Pancham Singh, Prashant Upadhyay, Meetu Malhotra, Rahul Sharma
Inbunden, 2025
4 049 kr
Automating Software Defect Detection Through Machine Learning and LLMs
Häftad, Engelska, 2025
3 279 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2025-10-02
- Mått178 x 254 x 23 mm
- Vikt800 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- Antal sidor428
- FörlagIGI Global
- ISBN9798337344614
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Advancing Software Engineering Through AI, Federated Learning, and Large Language Models
Avinash Kumar Sharma, Nitin Chanderwal, Amarjeet Prajapati, Pancham Singh, Mrignainy Kansal
Inbunden, 2024
6 159 kr
Applications of AI and LLMs in Production and Services Industries
Prashant Upadhyay, Pancham Singh, Satya Prakash Yadav, Sinem Alturjman, Chadi Altrjman
Inbunden, 2026
1 939 kr
Del 1
Del 1
- Nyhet
Del 1