Automating Software Defect Detection Through Machine Learning and LLMs
Bryan Gardiner, Pancham Singh, Prashant Upadhyay, Meetu Malhotra, Rahul Sharma
Inbunden, 2025
4 079 kr
Automating Software Defect Detection Through Machine Learning and LLMs
Häftad, Engelska, 2025
3 429 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2025-10-02
- Mått178 x 254 x 23 mm
- Vikt800 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- Antal sidor428
- FörlagIgi Global Scientific Publishing
- ISBN9798337344614
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Advancing Software Engineering Through AI, Federated Learning, and Large Language Models
Avinash Kumar Sharma, Nitin Chanderwal, Amarjeet Prajapati, Pancham Singh, Mrignainy Kansal
Inbunden, 2024
6 429 kr
- Nyhet
Del 3
- Nyhet
Del 11
- Nyhet
Del 4
Del 1
Del 3
- Nyhet
Del 6
Del 2
- Nyhet
Del 1