Akademibokhandeln
Bryan Gardiner, Pancham Singh - Automating Software Defect Detection Through Machine Learning and LLMs, Häftad

Häftad, Engelska, 2025

Automating Software Defect Detection Through Machine Learning and LLMs

Av Bryan Gardiner, Pancham Singh

3499 kr

Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Beskrivning
Produktinformation
  • Utgivningsdatum: 2025-10-02
  • Mått: 178 x 254 x 23 mm
  • Vikt: 800 g
  • Format: Häftad
  • Språk: Engelska
  • Antal sidor: 428
  • Förlag: Igi Global Scientific Publishing
  • ISBN: 9798337344614
Utforska kategorier

Butikslager

Ej i lager i butik.

Betyg & recensioner

0 recensioner

Inga recensioner tillgängliga.