Hoppa till sidans huvudinnehåll

Timothy D. (IBM) Sullivan - Böcker

Visar alla böcker från författaren Timothy D. (IBM) Sullivan.
1 produkt
Del 12 - IEEE Press Series on Microelectronic Systems

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Av Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu m. fl

Inbunden, Engelska, 2009

3 319 kr

Skickas inom 10-15 vardagar