Ernest Y. (IBM) Wu - Böcker

Visar alla böcker från författaren Ernest Y. (IBM) Wu.

1 produkt

Kategorier

1 produkt

Del 12

Del 12 - IEEE Press Series on Microelectronic Systems

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Av Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu m. fl

Inbunden, Engelska, 2009

3 319 kr

Skickas inom 10-15 vardagar