Hoppa till sidans huvudinnehåll

Stewart E. Rauch - Böcker

Visar alla böcker från författaren Stewart E. Rauch.
1 produkt
Del 12 - IEEE Press Series on Microelectronic Systems

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Av Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu m. fl

Inbunden, Engelska, 2009

2 819 kr

Skickas inom 7-10 vardagar