Hoppa till sidans huvudinnehåll

Spain) Sune, Jordi (Universitat Autonoma de Barcelona - Böcker

Visar alla böcker från författaren Spain) Sune, Jordi (Universitat Autonoma de Barcelona.
1 produkt
Del 12 - IEEE Press Series on Microelectronic Systems

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

Av Alvin W. Strong, Ernest Y. Wu m. fl

Inbunden, Engelska, 2009

2 789 kr

Skickas inom 10-15 vardagar