Hoppa till sidans huvudinnehåll

Spain) Sune, Jordi (Universitat Autonoma de Barcelona - Böcker

Visar alla böcker från författaren Spain) Sune, Jordi (Universitat Autonoma de Barcelona.
1 produkt
Del 12 - IEEE Press Series on Microelectronic Systems

Reliability Wearout Mechanisms in Advanced CMOS Technologies

AvAlvin W. Strong,Ernest Y. Wu m. fl.

Inbunden, Engelska, 2009

2 579 kr

Skickas inom 10-15 vardagar