Del 0 - NanoScience and Technology
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Application to Rough and Natural Surfaces
Inbunden, Engelska, 2006
2 749 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Finns i fler format (1)
Making a clear distinction is made between nano- and micro-mechanical testing for physical reasons, this monograph describes the basics and applications of the supermicroscopies AFM and SNOM, and of the nanomechanical testing on rough and technical natural surfaces in the submicron range down to a lateral resolution of a few nm.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2006-08-04
- Mått155 x 235 x undefined mm
- FormatInbunden
- SpråkEngelska
- SerieNanoScience and Technology
- Antal sidor292
- FörlagSpringer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
- ISBN9783540284055
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Mer från samma serie
Functional Nanostructures and Metamaterials for Superconducting Spintronics
Anatolie Sidorenko
Häftad
1 809 kr
Physical Design and Mask Synthesis for Directed Self-Assembly Lithography
Seongbo Shim, Youngsoo Shin
Häftad
1 389 kr
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Gerd Kaupp
Häftad
2 539 kr
- Nyhet
Del 4
- Nyhet
- Nyhet
- Nyhet
Del 4
- Nyhet
Del 6
Del 1
- Nyhet