USA) Ma, Zhiyong (Intel Corporation, Hillsboro, OR - Böcker

Visar alla böcker från författaren USA) Ma, Zhiyong (Intel Corporation, Hillsboro, OR.

1 produkt

Kategorier

1 produkt

Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics

AvZhiyong Ma,David G. Seiler,USA) Ma, Zhiyong (Intel Corporation, Hillsboro, OR,USA) Seiler, David G. (National Institute of Standards and Technology, Hillsboro, OR

Inbunden, Engelska, 2016

5 729 kr

Skickas inom 7-10 vardagar