New York) Rodbell, Kenneth P. (IBM T J Watson Research Center - Böcker
Visar alla böcker från författaren New York) Rodbell, Kenneth P. (IBM T J Watson Research Center.
1 produkt
1 produkt
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Av Kenneth P. Rodbell, William F. Filter, Harold J. Frost, Paul S. Ho, New York) Rodbell, Kenneth P. (IBM T J Watson Research Center, New Hampshire) Frost, Harold J. (Dartmouth College, Austin) Ho, Paul S. (University of Texas
Häftad, Engelska, 2014
549 kr
Skickas inom 5-8 vardagar