Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Häftad, Engelska, 2014
Av Kenneth P. Rodbell, William F. Filter, Harold J. Frost, Paul S. Ho, New York) Rodbell, Kenneth P. (IBM T J Watson Research Center, New Hampshire) Frost, Harold J. (Dartmouth College, Austin) Ho, Paul S. (University of Texas
549 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2014-06-05
- Mått152 x 229 x 26 mm
- Vikt680 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- SerieMRS Proceedings
- Antal sidor514
- FörlagCambridge University Press
- ISBN9781107409484