Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Häftad, Engelska, 2014
AvKenneth P. Rodbell,William F. Filter,Harold J. Frost,Paul S. Ho,New York) Rodbell, Kenneth P. (IBM T J Watson Research Center,New Hampshire) Frost, Harold J. (Dartmouth College,Austin) Ho, Paul S. (University of Texas
439 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2014-06-05
- Mått152 x 229 x 26 mm
- Vikt680 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- SerieMRS Proceedings
- Antal sidor514
- FörlagCambridge University Press
- ISBN9781107409484