Electromigration in Metals
Paul S. Ho, Chao-Kun Hu, Martin Gall, Valeriy Sukharev
Inbunden, 2022
1 449 kr
Del i serien MRS Proceedings
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Häftad, Engelska, 2014
489 kr
Beställningsvara. Skickas inom 11-20 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2014-06-05
- Mått152 x 229 x 26 mm
- Vikt680 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- SerieMRS Proceedings
- Antal sidor514
- FörlagCambridge University Press
- ISBN9781107409484
Tillhör följande kategorier
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Del 9
Low Dielectric Constant Materials for IC Applications
Paul S. Ho, Jihperng Leu, Wei William Lee
Häftad, 2012
2 169 kr
Del 9
Low Dielectric Constant Materials for IC Applications
Paul S. Ho, Jihperng Leu, Wei William Lee
Inbunden, 2002
2 169 kr
Advanced Interconnects for ULSI Technology
Mikhail Baklanov, Paul S. Ho, Ehrenfried Zschech
Inbunden, 2012
2 859 kr
- Nyhet
Del 4
Del 7
Del 1
- Nyhet
Del 6
- Nyhet