Häftad, Engelska, 2014
Materials Reliability in Microelectronics III: Volume 309
Av Kenneth P. Rodbell, William F. Filter, Harold J. Frost, Paul S. Ho
589 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Beskrivning
The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2014-06-05
- Mått: 152 x 229 x 26 mm
- Vikt: 680 g
- Format: Häftad
- Språk: Engelska
- Serie: MRS Proceedings
- Antal sidor: 514
- Förlag: Cambridge University Press
- ISBN: 9781107409484
Utforska kategorier
Butikslager
Ej i lager i butik.
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.