Mexico) Padilla, Moises (Centro de Investigaciones en Optica AC - Böcker
Visar alla böcker från författaren Mexico) Padilla, Moises (Centro de Investigaciones en Optica AC.
1 produkt
1 produkt
Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology
Av Manuel Servin, J. Antonio Quiroga, Moises Padilla, Mexico) Servin, Manuel (Nationale Superieure des Telecommunications, France; Centro de Investigaciones en Optica AC, Spain) Quiroga, J. Antonio (Universidad Complutense de Madrid, Mexico) Padilla, Moises (Centro de Investigaciones en Optica AC
Inbunden, Engelska, 2014
1 729 kr
Tillfälligt slut