France) Pougnet, Philippe (Vedecom Institute, Versailles - Böcker

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Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light

AvPierre-Richard Dahoo,Philippe Pougnet,Abdelkhalak El Hami,France) Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin,France) Pougnet, Philippe (Vedecom Institute, Versailles,France) El Hami, Abdelkhalak (Institut National des Sciences Appliquees (INSA-Rouen)

Inbunden, Engelska, 2016

2 239 kr

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