The Certification of 100 mm Diameter Silicon Resistivity SRMs 2531 Through 2547 Using Dual-Configuration Four-Point Probe Measurement, 2006 Edition
Häftad, Engelska
329 kr
Beställningsvara. Skickas inom 3-6 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.Produktinformation
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- Antal sidor134
- FörlagCreatespace Independent Publishing Platform
- ISBN9781494743581