Hoppa till sidans huvudinnehåll

909 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Finns i fler format (1)


This book focusses on the spacer engineering aspects of novel MOS-based device–circuit co-design in sub-20nm technology node, its process complexity, variability, and reliability issues. It comprehensively explores the FinFET/tri-gate architectures with their circuit/SRAM suitability and tolerance to random statistical variations.

Produktinformation

  • Utgivningsdatum2020-06-30
  • Mått156 x 234 x undefined mm
  • Vikt453 g
  • FormatHäftad
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor138
  • FörlagTaylor & Francis Ltd
  • ISBN9780367573553
Hoppa över listan

Mer från samma författare

VLSI Design and Test

Ambika Prasad Shah, Sudeb Dasgupta, Anand Darji, Jaynarayan Tudu

Häftad

1 369 kr

VLSI Design and Test

Anirban Sengupta, Sudeb Dasgupta, Virendra Singh, Rohit Sharma, Santosh Kumar Vishvakarma

Häftad

1 519 kr

Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av

Spacer Engineered FinFET Architectures

Sudeb Dasgupta, Brajesh Kumar Kaushik, Pankaj Kumar Pal, India) Dasgupta, Sudeb (Indian Institute of Technology, Roorkee, India) Kaushik, Brajesh Kumar (Indian Institute of Technology-Roorkee, India) Pal, Pankaj Kumar (Indian Institute of Technology-Roorkee

Inbunden

2 679 kr

Biosensors

Baljinder Kaur, Santosh Kumar, Brajesh Kumar Kaushik, India) Kaur, Baljinder (Indian Institute of Technology Roorkee, India) Kumar, Santosh (Central Institute of Technology Kokrajhar, India) Kaushik, Brajesh Kumar (Indian Institute of Technology Roorkee

Inbunden

1 749 kr

VLSI Design and Test

Ambika Prasad Shah, Sudeb Dasgupta, Anand Darji, Jaynarayan Tudu

Häftad

1 369 kr

VLSI Design and Test

Anirban Sengupta, Sudeb Dasgupta, Virendra Singh, Rohit Sharma, Santosh Kumar Vishvakarma

Häftad

1 519 kr

Nanoelectronics

Kaushik,Brajesh Kuma, Brajesh Kumar Kaushik

Häftad

2 119 kr