Häftad, Tyska, 2002
Oberflächenanalyse von Si/SiGe-Schichten
1159 kr
Skickas inom 5-8 vardagar
Beskrivning
Produktinformation
- Utgivningsdatum: 2002-03-07
- Mått: 148 x 210 x 6 mm
- Vikt: 136 g
- Format: Häftad
- Språk: Tyska
- Antal sidor: 96
- Upplaga: 2004
- Förlag: Diplom.de
- ISBN: 9783838651125
Utforska kategorier
Butikslager
Ej i lager i butik.
Betyg & recensioner
0 recensioner
Inga recensioner tillgängliga.