Hoppa till sidans huvudinnehåll

Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XXIV

Häftad, Engelska, 2010

Av Christopher J. Raymond

4 849 kr

Slutsåld

Produktinformation

  • Utgivningsdatum2010-12-01
  • Mått152 x 229 x undefined mm
  • FormatHäftad
  • SpråkEngelska
  • FörlagSPIE Press
  • ISBN9780819480521