Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez
Inbunden, 2007
2 859 kr
1 439 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
1 439 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
1 439 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.