José Pineda de Gyvez - Böcker
Visar alla böcker från författaren José Pineda de Gyvez.
7 produkter
7 produkter
Del 34 - Frontiers in Electronic Testing
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Inbunden, Engelska, 2007
2 749 kr
Skickas inom 10-15 vardagar
Inbunden, Engelska, 1998
3 529 kr
Skickas inom 10-15 vardagar
Del 208 - Springer International Series in Engineering and Computer Science
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Inbunden, Engelska, 1992
1 409 kr
Skickas inom 10-15 vardagar
Del 34 - Frontiers in Electronic Testing
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Häftad, Engelska, 2010
2 619 kr
Skickas inom 7-10 vardagar
Häftad, Engelska, 2014
1 409 kr
Skickas inom 10-15 vardagar
Inbunden, Engelska, 2010
709 kr
Skickas inom 10-15 vardagar
Häftad, Engelska, 2016
709 kr
Skickas inom 10-15 vardagar