José Pineda de Gyvez – författare

Visar alla böcker från författaren José Pineda de Gyvez.

7 produkter

1. 

   Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

   Av Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez

   Inbunden, 2007

   2799 kr

   Lägg i varukorg

2. 

   Integrated Circuit Manufacturability

   The Art of Process and Design Integration

   Av José Pineda de Gyvez, Dhiraj Pradhan

   Inbunden, 1998

   3719 kr

   Lägg i varukorg

3. 

   Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

   Av José Pineda de Gyvez

   Inbunden, 1992

   1399 kr

   Lägg i varukorg

4. 

   Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits

   Av Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez

   Häftad, 2010

   2749 kr

   Lägg i varukorg

5. 

   Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

   Av José Pineda de Gyvez

   Häftad, 2014

   1409 kr

   Lägg i varukorg

6. 

   Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters

   Design, Test and Calibration

   Av Amir Zjajo, José Pineda de Gyvez

   Inbunden, 2010

   709 kr

   Lägg i varukorg

7. 

   Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters

   Design, Test and Calibration

   Av Amir Zjajo, José Pineda de Gyvez

   Häftad, 2016

   709 kr

   Lägg i varukorg