José Pineda de Gyvez - Böcker
Visar alla böcker från författaren José Pineda de Gyvez.
7 produkter
7 produkter
Del 34 - Frontiers in Electronic Testing
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Av Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez, Jose Pineda de Gyvez
Inbunden, Engelska, 2007
2 789 kr
Skickas inom 7-10 vardagar
Integrated Circuit Manufacturability
Av José Pineda de Gyvez, Dhiraj Pradhan, Jose Pineda (Texas A&M University) de Gyvez, Dhiraj (Stanford University) Pradhan
Inbunden, Engelska, 1998
3 429 kr
Skickas inom 5-8 vardagar
Del 208 - Springer International Series in Engineering and Computer Science
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Inbunden, Engelska, 1992
1 409 kr
Skickas inom 7-10 vardagar
Del 34 - Frontiers in Electronic Testing
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Av Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez, Jose Pineda de Gyvez
Häftad, Engelska, 2010
2 669 kr
Skickas inom 5-8 vardagar
Häftad, Engelska, 2014
1 409 kr
Skickas inom 7-10 vardagar
Inbunden, Engelska, 2010
709 kr
Skickas inom 7-10 vardagar
Häftad, Engelska, 2016
709 kr
Skickas inom 7-10 vardagar