Del 34 - Frontiers in Electronic Testing
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Inbunden, Engelska, 2007
2 859 kr
Skickas inom 10-15 vardagar
José Pineda de Gyvez – författare
Visar alla böcker från författaren José Pineda de Gyvez.
7 produkter
7 produkter
- Inbunden, Engelska, 1998
3 709 kr
Skickas inom 5-8 vardagar
- Inbunden, Engelska, 1992
1 439 kr
Skickas inom 10-15 vardagar
- Del 34 - Frontiers in Electronic Testing
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Häftad, Engelska, 20102 709 kr
Skickas inom 5-8 vardagar
- Del 208 - Springer International Series in Engineering and Computer Science
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Häftad, Engelska, 20141 439 kr
Skickas inom 10-15 vardagar
- Inbunden, Engelska, 2010
719 kr
Skickas inom 10-15 vardagar
- Häftad, Engelska, 2016
719 kr
Skickas inom 10-15 vardagar