José Pineda de Gyvez - Böcker

Visar alla böcker från författaren José Pineda de Gyvez.
7 produkter
Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez, Jose Pineda de Gyvez - Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits, Inbunden

Inbunden, Engelska, 2007

2 789 kr

Skickas inom 7-10 vardagar
José Pineda de Gyvez, Jose Pineda de Gyvez - Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models, Inbunden
Del 208 - Springer International Series in Engineering and Computer Science

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models

Av José Pineda de Gyvez, Jose Pineda de Gyvez

Inbunden, Engelska, 1992

1 409 kr

Skickas inom 7-10 vardagar
Manoj Sachdev, José Pineda de Gyvez, Jose Pineda de Gyvez - Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits, Häftad

Häftad, Engelska, 2010

2 669 kr

Skickas inom 5-8 vardagar
José Pineda de Gyvez, Jose Pineda De Gyvez - Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models, Häftad

Häftad, Engelska, 2014

1 409 kr

Skickas inom 7-10 vardagar
Amir Zjajo, José Pineda de Gyvez - Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters, Inbunden

Inbunden, Engelska, 2010

709 kr

Skickas inom 7-10 vardagar
Amir Zjajo, José Pineda de Gyvez - Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters, Häftad

Häftad, Engelska, 2016

709 kr

Skickas inom 7-10 vardagar