Hoppa till sidans huvudinnehåll

Proceedings of Combined First Pacific-International Conference on X-Ray Analytical Methods and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Hilo and Honolulu, Hawaii, August 7-16, 1991

Inbunden, Engelska, 1992

AvCharles S. Barrett,John V. Gilfrich,Ting C. Huang,Ron Jenkins,G. J. McCarthy,Paul K. Predecki,R. Ryon,Deane K. Smith,J. V. Gilfrich,C.S. Barrett,Charles S Barrett,Deane K Smith,J V Gilfrich,T C Huang,C S Barrett,John V Gilfrich,Ting C Huang,G J McCarthy,Paul K Predecki

1 119 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Produktinformation

  • Utgivningsdatum1992-10-01
  • Mått175 x 230 x 41 mm
  • Vikt2 760 g
  • FormatInbunden
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor1 334
  • FörlagSpringer Science+Business Media
  • ISBN9780306442490

Tillhör följande kategorier

Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av

Advances in X-Ray Analysis

D.K. Bowen, John V. Gilfrich, C.C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan, Paul K. Predecki, Deane K. Smith, D. K. Bowen, D K Bowen, John V Gilfrich, C C Goldsmith, Ting C Huang, I Cev Noyan, Paul K Predecki, Deane K Smith

Inbunden

4 149 kr

Advances in x-Ray Analysis

John V. Gilfrich, C.C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan, USA) Ting C. Huang (IBM Almaden Research Center, San Jose, CA, USA) Ron Jenkins (International Centre for Diffraction Data, Newton Square, Pennsylvania, USA) I. Cev Noyan (IBM Research Center, Yorktown Heights, NY, John V. Gilfrich, C.C. Goldsmith, T C Huang, Charles C Goldsmith, J V Gilfrich, John V Gilfrich, C C Goldsmith, Ting C Huang, Ron Jenkins, I Cev Noyan

Inbunden

1 119 kr

Advances in X-Ray Analysis

C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G.J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane K. Smith, C. S. Barrett, G. J. McCarthy

Häftad

709 kr

Advances in X-Ray Analysis

I. C. Noyan, T. C. Huang, John V. Gilfrich, I. Cev Noyan, Ron Jenkins, Ting C. Huang, Robert L. Snyder, Deane K. Smith, Mary Ann Zaitz, Paul K. Predecki, John V Gilfrich, I Cev Noyan, Ting C Huang, Robert L Snyder, Deane K Smith, Paul K Predecki

Inbunden

4 149 kr

Advances in X-Ray Analysis

Charles S. Barrett, J.V. Gilfrich, Ron Jenkins, John C. Russ, J.W. Richardson Jr., Paul K. Predecki, J. V. Gilfrich, J. W. Richardson Jr.

Häftad

2 769 kr

Advances in X-Ray Analysis

Charles S. Barrett, jerome B. Cohen, John Faber, Jr., Ron Jenkins, Donald E. Leyden, John C. Russ, Paul K. Predecki, Jerome B. Cohen, Jr. Faber

Inbunden

2 769 kr

Advances in X-Ray Analysis

John V. Gilfrich, Ting C. Huang, C.R. Hubbard, M.R. James, Ron Jenkins, G.R. Lachance, Deane K. Smith, C. R. Hubbard, G. R. Lachance, M. R. James

Häftad

709 kr

Advances in X-Ray Analysis

Charles S. Barrett, Conference on Applications of X-Ray Anal, Charles S. Barrett, J.V. Gilfrich, Ron Jenkins, John C. Russ, J.W. Richardson Jr., Paul K. Predecki, J. V. Gilfrich, Charles S., John V., Ting C. Huang

Inbunden

2 769 kr