Advances in X-Ray Analysis
Volume 35B
Häftad, Engelska, 2012
Av C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G.J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane K. Smith, C. S. Barrett, G. J. McCarthy
709 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.Produktinformation
- Utgivningsdatum2012-11-21
- Mått170 x 244 x 35 mm
- Vikt1 100 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- Antal sidor641
- FörlagSpringer-Verlag New York Inc.
- ISBN9781461365327