Hoppa till sidans huvudinnehåll

709 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Produktinformation

  • Utgivningsdatum2012-11-21
  • Mått170 x 244 x 35 mm
  • Vikt1 100 g
  • FormatHäftad
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor641
  • FörlagSpringer-Verlag New York Inc.
  • ISBN9781461365327

Tillhör följande kategorier

Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av

Advances in X-Ray Analysis

D.K. Bowen, John V. Gilfrich, C.C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan, Paul K. Predecki, Deane K. Smith, D. K. Bowen, D K Bowen, John V Gilfrich, C C Goldsmith, Ting C Huang, I Cev Noyan, Paul K Predecki, Deane K Smith

Inbunden

4 149 kr

Advances in x-Ray Analysis

John V. Gilfrich, C.C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan, USA) Ting C. Huang (IBM Almaden Research Center, San Jose, CA, USA) Ron Jenkins (International Centre for Diffraction Data, Newton Square, Pennsylvania, USA) I. Cev Noyan (IBM Research Center, Yorktown Heights, NY, John V. Gilfrich, C.C. Goldsmith, T C Huang, Charles C Goldsmith, J V Gilfrich, John V Gilfrich, C C Goldsmith, Ting C Huang, Ron Jenkins, I Cev Noyan

Inbunden

1 119 kr

Proceedings of Combined First Pacific-International Conference on X-Ray Analytical Methods and Fortieth Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Hilo and Honolulu, Hawaii, August 7-16, 1991

Charles S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G. J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane K. Smith, J. V. Gilfrich, C.S. Barrett, Charles S Barrett, Deane K Smith, J V Gilfrich, T C Huang, C S Barrett, John V Gilfrich, Ting C Huang, G J McCarthy, Paul K Predecki

Inbunden

1 119 kr

Advances in X-Ray Analysis

I. C. Noyan, T. C. Huang, John V. Gilfrich, I. Cev Noyan, Ron Jenkins, Ting C. Huang, Robert L. Snyder, Deane K. Smith, Mary Ann Zaitz, Paul K. Predecki, John V Gilfrich, I Cev Noyan, Ting C Huang, Robert L Snyder, Deane K Smith, Paul K Predecki

Inbunden

4 149 kr

Advances in X-Ray Analysis

John V. Gilfrich, C.C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan, C. C. Goldsmith

Häftad

709 kr

Advances in X-Ray Analysis

John V. Gilfrich, Ting C. Huang, C.R. Hubbard, M.R. James, Ron Jenkins, G.R. Lachance, Deane K. Smith, C. R. Hubbard, G. R. Lachance, M. R. James

Häftad

709 kr

Advances in X-Ray Analysis

Charles S. Barrett, Conference on Applications of X-Ray Anal, Charles S. Barrett, J.V. Gilfrich, Ron Jenkins, John C. Russ, J.W. Richardson Jr., Paul K. Predecki, J. V. Gilfrich, Charles S., John V., Ting C. Huang

Inbunden

2 769 kr