Hoppa till sidans huvudinnehåll

Advances in x-Ray Analysis

Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6,

Inbunden, Engelska, 1994

AvJohn V. Gilfrich,C.C. Goldsmith,Ting C. Huang,Ron Jenkins,I. Cev Noyan

1 109 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Produktinformation

  • Utgivningsdatum1994-09-30
  • Mått183 x 260 x 48 mm
  • Vikt1 644 g
  • FormatInbunden
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor778
  • FörlagKluwer Academic Publishers Group
  • ISBN9780306449017

Tillhör följande kategorier

Hoppa över listan

Mer från samma författare

Advances in X-Ray Analysis

D.K. Bowen, John V. Gilfrich, C.C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan, Paul K. Predecki, Deane K. Smith

Inbunden

4 139 kr

Advances in X-Ray Analysis

I. C. Noyan, T. C. Huang, John V. Gilfrich, I. Cev Noyan, Ron Jenkins, Ting C. Huang, Robert L. Snyder, Deane K. Smith, Mary Ann Zaitz, Paul K. Predecki

Inbunden

4 139 kr

Advances in X-Ray Analysis

John V. Gilfrich, Ting C. Huang, C.R. Hubbard, M.R. James, Ron Jenkins, G.R. Lachance, Deane K. Smith

Häftad

699 kr

Advances in X-Ray Analysis

C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G.J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane K. Smith

Häftad

699 kr

Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av

Advances in X-Ray Analysis

D.K. Bowen, John V. Gilfrich, C.C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan, Paul K. Predecki, Deane K. Smith

Inbunden

4 139 kr

Advances in X-Ray Analysis

I. C. Noyan, T. C. Huang, John V. Gilfrich, I. Cev Noyan, Ron Jenkins, Ting C. Huang, Robert L. Snyder, Deane K. Smith, Mary Ann Zaitz, Paul K. Predecki

Inbunden

4 139 kr

Advances in X-Ray Analysis

C.S. Barrett, John V. Gilfrich, Ting C. Huang, Ron Jenkins, G.J. McCarthy, Paul K. Predecki, R. Ryon, Deane K. Smith

Häftad

699 kr

Advances in X-Ray Analysis

John V. Gilfrich, Ting C. Huang, C.R. Hubbard, M.R. James, Ron Jenkins, G.R. Lachance, Deane K. Smith

Häftad

699 kr

Advances in X-Ray Analysis

Charles S. Barrett, jerome B. Cohen, John Faber, Jr., Ron Jenkins, Donald E. Leyden, John C. Russ, Paul K. Predecki

Inbunden

2 759 kr