Advances in x-Ray Analysis
Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver, Colorado, August 2-6,
Inbunden, Engelska, 1994
Av John V. Gilfrich, USA) John V. Gilfrich (Sachs/Freeman Associates/NRL, Washington, DC, I. C. Noyan, Gilfrich, I C Noyan, C.C. Goldsmith, Ting C. Huang, Ron Jenkins, I. Cev Noyan, USA) Ting C. Huang (IBM Almaden Research Center, San Jose, CA, USA) Ron Jenkins (International Centre for Diffraction Data, Newton Square, Pennsylvania, USA) I. Cev Noyan (IBM Research Center, Yorktown Heights, NY, John V. Gilfrich, C.C. Goldsmith, T C Huang, Charles C Goldsmith, J V Gilfrich, John V Gilfrich, C C Goldsmith, Ting C Huang, Ron Jenkins, I Cev Noyan
1 129 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.Produktinformation
- Utgivningsdatum1994-09-30
- Mått183 x 260 x 48 mm
- Vikt1 644 g
- FormatInbunden
- SpråkEngelska
- Antal sidor778
- FörlagKluwer Academic Publishers Group
- ISBN9780306449017