Optical Microstructural Characterization of Semiconductors: Volume 588
Inbunden, Engelska, 2000
Av M. Selim Ūnlū, Javier Piqueras, &, Nader M Kalkhoran, Takashi Sekiguchi
609 kr
Slutsåld
Produktinformation
- Utgivningsdatum2000-04-17
- Mått157 x 234 x 23 mm
- Vikt590 g
- FormatInbunden
- SpråkEngelska
- Antal sidor354
- FörlagCambridge University Press
- ISBN9781558994966