Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265
Häftad, Engelska, 2014
Av C. V. Thompson, J. R. Lloyd, C. V. (Massachusetts Institute of Technology) Thompson, Massachusetts) Lloyd, J. R. (DIGITAL Equipment Corporation
479 kr
Beställningsvara. Skickas inom 7-10 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2014-06-05
- Mått152 x 229 x 18 mm
- Vikt460 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- SerieMRS Proceedings
- Antal sidor344
- FörlagCambridge University Press
- ISBN9781107409682