Line × Tester analysis for yield and yield contributing traits

Häftad, Engelska, 2025

Av Sanjay Rathod, Rushikesh Doke

929 kr

Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Produktinformation

  • Utgivningsdatum2025-01-13
  • Mått152 x 229 x 6 mm
  • Vikt141 g
  • FormatHäftad
  • SpråkEngelska
  • Antal sidor96
  • FörlagLAP Lambert Academic Publishing
  • ISBN9783659889035