Lifetime Spectroscopy
A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications
Inbunden, Engelska, 2005
4 049 kr
Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Finns i fler format (1)
Lifetime spectroscopy is one of the most sensitive diagnostic tools for the identification and analysis of impurities in semiconductors. This book introduces a transparent modeling procedure that allows a detailed theoretical evaluation of the spectroscopic potential of the different lifetime spectroscopic techniques.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2005-06-23
- Mått155 x 235 x 37 mm
- Vikt950 g
- FormatInbunden
- SpråkEngelska
- SerieSpringer Series in Materials Science
- Antal sidor492
- Upplaga2005
- FörlagSpringer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
- ISBN9783540253037