Metrology and Diagnostic Techniques for Nanoelectronics
Zhiyong Ma, David G. Seiler, USA) Ma, Zhiyong (Intel Corporation, Hillsboro, OR, USA) Seiler, David G. (National Institute of Standards and Technology, Hillsboro, OR
Inbunden
5 729 kr
Life on Hold
Finding Hope in the Face of Serious Illness
Häftad, Engelska, 2006
209 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar. Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.
Produktinformation
- Utgivningsdatum2006-06-01
- Mått139 x 215 x 17 mm
- Vikt340 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- Antal sidor288
- FörlagMultnomah Press
- ISBN9781590528273