Journey to Data Quality

Häftad, Engelska, 2009

Av Yang W. Lee, Leo L. Pipino, Richard Y. Wang, James D. Funk

329 kr

Tillfälligt slut

Produktinformation

  • Utgivningsdatum2009-09-01
  • Mått152 x 229 x 12 mm
  • Vikt340 g
  • SpråkEngelska
  • FörlagMIT Press Ltd
  • EAN9780262513357