Journey to Data Quality
Häftad, Engelska, 2009
Av Yang W. Lee, Leo L. Pipino, Richard Y. Wang, James D. Funk
329 kr
Tillfälligt slut
Produktinformation
- Utgivningsdatum2009-09-01
- Mått152 x 229 x 12 mm
- Vikt340 g
- SpråkEngelska
- FörlagMIT Press Ltd
- EAN9780262513357