Journey to Data Quality

Häftad, Engelska, 2009

AvYang W. Lee,Leo L. Pipino,Richard Y. Wang,James D. Funk

329 kr

Tillfälligt slut

Produktinformation

Utgivningsdatum2009-09-01
Mått152 x 229 x 12 mm
Vikt340 g
FormatHäftad
SpråkEngelska
FörlagMIT Press Ltd
ISBN9780262513357

Tillhör följande kategorier

Informationsteknik: allmänt inom Data och IT
Systemvetenskap och AI inom Data och IT