bokomslag ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis
Vetenskap & teknik

ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis

Asm International

Pocket

2469:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Tillfälligt slut online – klicka på "Bevaka" för att få ett mejl så fort varan går att köpa igen.

  • 660 sidor
  • 2018
The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.
  • Författare: Asm International
  • Format: Pocket/Paperback
  • ISBN: 9781627081504
  • Språk: Engelska
  • Antal sidor: 660
  • Utgivningsdatum: 2018-07-30
  • Förlag: A S M International