Vetenskap & teknik
Pocket
ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis
Asm International
2469:-
Tillfälligt slut online – klicka på "Bevaka" för att få ett mejl så fort varan går att köpa igen.
The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.
- Format: Pocket/Paperback
- ISBN: 9781627081504
- Språk: Engelska
- Antal sidor: 660
- Utgivningsdatum: 2018-07-30
- Förlag: A S M International