Vissa av webbplatsens funktioner begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge). Byt surfläge för att kunna lägga artiklar i varukorgen.

Jag förstår

ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis 1

bokomslag ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis

Vetenskap & teknik

ISTFA 2017 Proceedings from the 43rd International Symposium for Testing and Failure Analysis

Asm International

Pocket

2559:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 5-9 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

660 sidor
2018

The theme for the November 2017 conference is Striving for 100% Success Rate. Papers focus on the tools and techniques needed for maximizing the success rate in every aspect of the electronic device failure analysis process.

Författare: Asm International
Format: Pocket/Paperback
ISBN: 9781627081504
Språk: Engelska
Antal sidor: 660
Utgivningsdatum: 2018-01-30
Förlag: A S M International