bokomslag Investigation of Gate Current In Neutron Irradiated AlxGa1-xN/GaN Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence
Psykologi & pedagogik

Investigation of Gate Current In Neutron Irradiated AlxGa1-xN/GaN Heterogeneous Field Effect Transistors Using Voltage and Temperature Dependence

Thomas E Gray Thomas E Gray

Pocket

829:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 5-10 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

  • 2012
  • Författare: Thomas E Gray, Thomas E Gray
  • Format: Pocket/Paperback
  • ISBN: 9781288308347
  • Språk: Engelska
  • Utgivningsdatum: 2012-11-16
  • Förlag: Biblioscholar