Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Häftad, Engelska, 2015
Av David C. Cox
1 789 kr
Beställningsvara. Skickas inom 3-6 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.Finns i fler format (2)
Produktinformation
- Utgivningsdatum2015-10-01
- Mått178 x 254 x 5 mm
- Vikt333 g
- SpråkEngelska
- SerieIOP Concise Physics
- Antal sidor104
- FörlagMorgan & Claypool Publishers
- EAN9781681740201
Hoppa över listan