bokomslag Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology
Vetenskap & teknik

Introduction to Focused Ion Beam Nanometrology

David C Cox

Pocket

1109:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 5-10 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

Andra format:

  • 84 sidor
  • 2015
  • Författare: David C Cox
  • Format: Pocket/Paperback
  • ISBN: 9780750327954
  • Språk: Engelska
  • Antal sidor: 84
  • Utgivningsdatum: 2015-10-01
  • Förlag: Morgan & Claypool