High Resolution Electron Microscopy of Defects in Materials: Volume 183
Inbunden, Engelska, 1990
Av Robert Sinclair, David J. Smith, David J Smith, Ulrich Dahmen
599 kr
Slutsåld
Produktinformation
- Utgivningsdatum1990-08-10
- Mått160 x 231 x 28 mm
- Vikt839 g
- FormatInbunden
- SpråkEngelska
- Antal sidor420
- FörlagCambridge University Press
- ISBN9781558990722