Fehlerdiagnose fr Schaltnetze aus Modulen mit partiell injektiven Pfadfunktionen

In dieser Monographie werden Verfahren zur modularen Testerzeugung fr Schaltnetze entwickelt. Ausgehend von einer Beschreibung der modularen Schaltung und den Tests fr die einzelnen Module bestimmen diese Verfahren den Test fr die modulare Schaltung. Die Arbeit geht in diesem Zusammenhang auch auf den prfgerechten Entwurf modularer Schaltungen ein. In Analogie zum klassischen sensibilisierten Pfad, der 1 Bit Testinformation weiterleiten kann, wird der Pfadbegriff auf die parallele Weiterleitung von k Bit Testinformation verallgemeinert. Die Arbeit formalisiert dazu mehrere Klassen von partiell injektiven Pfadfunktionen; daraus werden Kriterien fr die Mindesteigenschaften von pfadbildenden Modulen und Algorithmen zum Bilden solcher k-Bit-Pfade abgeleitet. Ziel des Buches ist es, Modultests, die mit speziellen Fehlermodellen und Verfahren in hoher Qualitt erzeugbar sind, auch in umfangreichen, modularen Schaltungen anzuwenden. Das Buch liefert dafr die theoretischen Grundlagen und die wesentlichen Algorithmen, die in einer Teilimplementierung auch erprobt wurden.