Electron Microscopy Studies of Ion Implanted Silicon
Häftad, Engelska, 2013
Av K Seshan, K. Seshan, Office of Scientific &. Technical Inform
789 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.Finns i fler format (2)
Produktinformation
- Utgivningsdatum2013-02-28
- Mått189 x 246 x 6 mm
- Vikt213 g
- FormatHäftad
- SpråkEngelska
- Antal sidor110
- FörlagBiblioscholar
- ISBN9781288822416