Applications et métrologie à l'échelle nanométrique 2
systèmes de mesure, ingénierie quantique et méthodes d'optimisation fiabiliste
Häftad, Franska, 2021
1 759 kr
Beställningsvara. Skickas inom 5-8 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.Produktinformation
- Utgivningsdatum2021-12-01
- FormatHäftad
- SpråkFranska
- Antal sidor232
- FörlagHermes Science Publishing Ltd
- ISBN9781784057947
Hoppa över listan
Du kanske också är intresserad av
Del 6
Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light
Pierre-Richard Dahoo, Philippe Pougnet, Abdelkhalak El Hami, France) Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) Pougnet, Philippe (Vedecom Institute, Versailles, France) El Hami, Abdelkhalak (Institut National des Sciences Appliquees (INSA-Rouen)
2 319 kr
- Nyhet
- Nyhet
Del 1