bokomslag Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse
Vetenskap & teknik

Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

Günther~ Vonœ Bünau

Häftad

1409:-

Funktionen begränsas av dina webbläsarinställningar (t.ex. privat läge).

Uppskattad leveranstid 3-7 arbetsdagar

Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249:-

  • 28 sidor
  • 1981
  • Författare: Günther~ Vonœ Bünau
  • Format: Häftad
  • ISBN: 9783531030494
  • Språk: Tyska
  • Antal sidor: 28
  • Utgivningsdatum: 1981-01-01
  • Förlag: Vs Verlag Fur Sozialwissenschaften