Hoppa till sidans huvudinnehåll

Anwendungen der hochauflösenden Sekundärionenmassenspektrometrie (SIMS) in der Oberflächenanalyse

Häftad, Tyska

Av Günther~ Vonœ Bünau

649 kr

Beställningsvara. Skickas inom 10-15 vardagar
Fri frakt för medlemmar vid köp för minst 249 kr.

Produktinformation

  • FormatHäftad
  • SpråkTyska
  • Antal sidor28
  • FörlagVs Verlag Fur Sozialwissenschaften
  • ISBN9783531030494

Tillhör följande kategorier

Hoppa över listan

Du kanske också är intresserad av